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～多結晶の構造解析～Ｘ線解析装置(リガク製 Ultima IV) |
X 線回折測定法は，スリットを通して細く絞ったエックス線を物質に照射し，その物質中の電子を強制振動させることにより生じる散乱エックス線の強度を計数管で測定する方法です。化合物はそれぞれ特徴的なエックス線回折パターンを示すため，結晶物質の結晶相の同定などの定性的及び定量的な分析に用いられています。本装置は、セラミックス等の工業材料から有機薄膜、磁性材、半導体薄膜などの先端材料の研究開発まで迅速な測定が可能です。
X-RAY DIFFRACTION ANALYSYS SYSTEM
X-ray diffraction is a non-destructive technique widely applied for the characterization of crystalline materials. This measuring is used for phase identification, quantitative analysis and the determination of structure imperfections.
